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Año de Publicación: "2022"

Subtipo de publicación

Publisher

IEEE Transactions on Industrial Electronics(1)

Área temáticas

Métodos informáticos especiales(1)

Área de conocimiento

Ciencias de la computación(1)

Inteligencia artificial(1)

Origen

Palabras Claves

Fault diagnosis(1)

latent knowledge(1)

one-class generative adversarial detection (OCGAD)(1)

semisupervised learning(1)

A One-Class Generative Adversarial Detection Framework for Multifunctional Fault Diagnoses

Abstract: In this article, fault diagnosis is of great significance for system health maintenance. For real ap

Palabras claves:

Fault diagnosis, latent knowledge, one-class generative adversarial detection (OCGAD), semisupervised learning

Bai Y., Diego R. Cabrera, Li C., Pu Z.