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Publisher: "IEEE Transactions on Industrial Electronics"
Subtipo de publicación
Article
(1)
Área temáticas
Métodos informáticos especiales
(1)
Área de conocimiento
Ciencias de la computación
(1)
Inteligencia artificial
(1)
Año de Publicación
2022
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
Fault diagnosis
(1)
latent knowledge
(1)
one-class generative adversarial detection (OCGAD)
(1)
semisupervised learning
(1)
A One-Class Generative Adversarial Detection Framework for Multifunctional Fault Diagnoses
Article
Abstract:
In this article, fault diagnosis is of great significance for system health maintenance. For real ap
Palabras claves:
Fault diagnosis, latent knowledge, one-class generative adversarial detection (OCGAD), semisupervised learning
Autores:
Bai Y., Diego R. Cabrera, Li C., Pu Z.
Fuentes:
scopus
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