Cruz-Valeriano E.
35
Coauthors
5
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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Año de publicación | Num. Publicaciones |
---|---|
2018 | 1 |
2019 | 1 |
2020 | 1 |
2021 | 1 |
2022 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
---|---|
Ciencia de materiales | 8 |
Nanopartícula | 1 |
Película delgada | 1 |
Polímero | 1 |
Material compuesto | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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Área temática | Num. Publicaciones |
---|---|
Física aplicada | 2 |
Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 2 |
Electricidad y electrónica | 2 |
Ingeniería y operaciones afines | 2 |
Física | 1 |
Metalurgia | 1 |
Química analítica | 1 |
Principales fuentes de datos
Origen | Num. Publicaciones |
---|---|
Scopus | 5 |
Google Scholar | 0 |
RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
Coautor | Num. Publicaciones |
---|---|
Martin Yañez-Limon | 5 |
Gutiérrez-Peralta A.M. | 3 |
Ramírez-Bon R. | 3 |
Enríquez-Flores C.I. | 2 |
Murillo-Bracamontes E.A. | 2 |
Escamilla-Díaz T. | 2 |
Palmerin J.M. | 2 |
Morales-Hernández J. | 2 |
Cruz M.P. | 1 |
Palomino-Ovando M.A. | 1 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Optical and dielectric studies of PMMA: precursors of BNT hybrid films
ArticleAbstract: In this study, polymethyl methacrylate (PMMA)-based organic–inorganic hybrid films were deposited byPalabras claves:Autores:Cruz-Valeriano E., Escamilla-Díaz T., García-Zaldivar O., Martin Yañez-Limon, Ramírez-Bon R., Serralta-Macías J.J.Fuentes:scopusTiN hard coating as a candidate reference material for surface metrology in chemistry: characterization and quantification by bulk and surface analyses techniques
ArticleAbstract: This study presents the synthesis and characterization of TiN hard coatings as a candidate referencePalabras claves:Anova, Materials characterization, metrology, TiN coatingAutores:Cruz-Valeriano E., Gutiérrez-Peralta A.M., Juárez-García J.M., Martin Yañez-Limon, Morales-Hernández J., Ramírez-Bon R.Fuentes:scopusContact resonance frequencies and their harmonics in scanning probe microscopy
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