Magnone P.
34
Coauthors
6
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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Año de publicación | Num. Publicaciones |
---|---|
2013 | 1 |
2014 | 1 |
2016 | 1 |
2017 | 2 |
2022 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
---|---|
Energía | 4 |
Ingeniería electrónica | 4 |
Simulación por computadora | 3 |
Fotovoltaica | 2 |
Semiconductor | 1 |
Ciencia de materiales | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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Área temática | Num. Publicaciones |
---|---|
Física aplicada | 5 |
Ciencias de la computación | 2 |
Programación informática, programas, datos, seguridad | 1 |
Ingeniería y operaciones afines | 1 |
Otras ramas de la ingeniería | 1 |
Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 1 |
Principales fuentes de datos
Origen | Num. Publicaciones |
---|---|
Scopus | 6 |
Google Scholar | 2 |
RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
Coautor | Num. Publicaciones |
---|---|
Crupi F. | 6 |
Fiegna C. | 3 |
Marco Lanuzza | 2 |
Rose R.D. | 2 |
Cocorullo G. | 2 |
Zanuccoli M. | 2 |
Paul Procel | 2 |
Maccaronio V. | 2 |
Eliana Acurio | 2 |
Trojman L. | 2 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Impact of AlN layer sandwiched between the GaN and the Al<inf>2</inf>O<inf>3</inf> layers on the performance and reliability of recessed AlGaN/GaN MOS-HEMTs
ArticleAbstract: This work compares the performance and the reliability of recessed-gate AlGaN/GaN MOS-HEMTs with twoPalabras claves:Al O 2 3, BTI, GaN, MOS-HEMTsAutores:Crupi F., Eliana Acurio, Iucolano F., Magnone P., Trojman L.Fuentes:googlescopusOn recoverable behavior of PBTI in AlGaN/GaN MOS-HEMT
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