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Palabras Claves: "Accelerated testing"

Subtipo de publicación

Publisher

IEEE Transactions on Nuclear Science(3)

Área temáticas

Ciencias de la computación(2)

Física aplicada(2)

Ciencias sociales(1)

Área de conocimiento

Arquitectura de computadoras(2)

Ciencias de la computación(2)

Física de partículas(1)

Ingeniería electrónica(1)

Simulación por computadora(1)

Objetivos de Desarrollo Sostenible

ODS 8: Trabajo decente y crecimiento económico(3)

ODS 9: Industria, innovación e infraestructura(3)

ODS 3: Salud y bienestar(2)

ODS 12: Producción y consumo responsables(1)

Año de Publicación

Origen

Palabras Claves

fault injection(2)

Evaluating the SEE Sensitivity of a 45 nm SOI Multi-Core Processor Due to 14 MeV Neutrons

Abstract: The aim of this work is to evaluate the SEE sensitivity of a multi-core processor having implemented

Palabras claves:

Accelerated testing, AMP, Multi-core, SEE, SEFI, SEU, SMP, Soft error, SOI

Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Mehaut J.F., Pablo F. Ramos, Rey S., Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.

SEE Error-Rate Evaluation of an Application Implemented in COTS Multicore/Many-Core Processors

Abstract: This paper evaluates the error rate of a memory-bound application implemented in different commercia

Palabras claves:

Accelerated testing, Error rate, fault injection, many core, Multicore, reliability, single-event effect (SEE), single-event upset (SEU), Soft error

Baylac M., Pablo F. Ramos, Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.

Radiation Experiments on a 28 nm Single-Chip Many-Core Processor and SEU Error-Rate Prediction

Abstract: This work evaluates the SEE static and dynamic sensitivity of a single-chip many-core processor havi

Palabras claves:

Accelerated testing, fault injection, Many-core, parallel processing, SEE, SEFI, SEU, Soft error

Baylac M., Dupont De Dinechin B., Francesca Villa, Jalier C., Mehaut J.F., Pablo F. Ramos, Ray V., Rey S., Stevens R., Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.