Documentos de Zergainoh N.E. | REDI

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Año de Publicación: "2017"

Subtipo de publicación

Publisher

IEEE Transactions on Nuclear Science(1)

Área temáticas

Física aplicada(1)

Área de conocimiento

Arquitectura de computadoras(1)

Ciencias de la computación(1)

Simulación por computadora(1)

Origen

Palabras Claves

Accelerated testing(1)

Radiation Experiments on a 28 nm Single-Chip Many-Core Processor and SEU Error-Rate Pbkp_rediction

Abstract: This work evaluates the SEE static and dynamic sensitivity of a single-chip many-core processor havi

Palabras claves:

Accelerated testing, fault injection, Many-core, parallel processing, SEE, SEFI, SEU, Soft error

Baylac M., Dupont De Dinechin B., Francesca Villa, Jalier C., Mehaut J.F., Pablo F. Ramos, Ray V., Rey S., Stevens R., Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.