Lauritsen J.V.
26
Coauthors
4
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2008 | 1 |
| 2009 | 2 |
| 2010 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ciencia de materiales | 6 |
| Nanostructura | 2 |
Publicaciones por áreas temáticas
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| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Química analítica | 1 |
| Literatura inglesa e inglesa antigua | 1 |
| Aceites, grasas, ceras y gases industriales | 1 |
| Física moderna | 1 |
| Física aplicada | 1 |
| Química inorgánica | 1 |
| Química orgánica | 1 |
| Ingeniería y operaciones afines | 1 |
| Química física | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 4 |
| Google Scholar | 3 |
| RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Foster A.S. | 4 |
| Besenbacher F. | 4 |
| Henry P. Pinto | 4 |
| Enevoldsen G.H. | 4 |
| Jensen M.C.R. | 3 |
| Hofer W.A. | 3 |
| Hammer B. | 2 |
| Kühnle A. | 1 |
| Reichling M. | 1 |
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Publicaciones del autor
The role of tip size and orientation, tip-surface relaxations and surface impurities in simultaneous AFM and STM studies on the TiO<inf>2</inf>(110) surface
ArticleAbstract: In this work we investigate some of the key factors in simultaneously recorded scanning tunneling miPalabras claves:Autores:Besenbacher F., Enevoldsen G.H., Foster A.S., Henry P. Pinto, Lauritsen J.V.Fuentes:googlescopusEnevoldsen et al. reply
OtherAbstract:Palabras claves:Autores:Besenbacher F., Enevoldsen G.H., Foster A.S., Hammer B., Henry P. Pinto, Hofer W.A., Jensen M.C.R., Lauritsen J.V.Fuentes:scopusImaging of the hydrogen subsurface site in rutile TiO2
ArticleAbstract: From an interplay between simultaneously recorded noncontact atomic force microscopy and scanning tuPalabras claves:Autores:Besenbacher F., Enevoldsen G.H., Foster A.S., Hammer B., Henry P. Pinto, Hofer W.A., Jensen M.C.R., Lauritsen J.V.Fuentes:googlescopusDetailed scanning probe microscopy tip models determined from simultaneous atom-resolved AFM and STM studies of the TiO2 (110) surface
ArticleAbstract: The atomic-scale contrast in noncontact atomic force microscopy (nc-AFM) images is determined by thePalabras claves:Autores:Besenbacher F., Enevoldsen G.H., Foster A.S., Henry P. Pinto, Hofer W.A., Jensen M.C.R., Kühnle A., Lauritsen J.V., Reichling M.Fuentes:googlescopus