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Palabras Claves: "Fault/defect tolerance"
Subtipo de publicación
Article
(1)
Publisher
IEEE Transactions on Nanotechnology
(1)
Área temáticas
Ciencias de la computación
(1)
Física aplicada
(1)
Ingeniería y operaciones afines
(1)
Área de conocimiento
Arquitectura de computadoras
(1)
Año de Publicación
2005
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
Majority gates
(1)
Nanoarchitectures
(1)
Von neumann multiplexing
(1)
Majority multiplexing - Economical redundant fault-tolerant designs for nanoarchitectures
Article
Abstract:
Motivated by the need for economical fault-tolerant designs for nanoarchitectures, we explore a nove
Palabras claves:
Fault/defect tolerance, Majority gates, Nanoarchitectures, Von neumann multiplexing
Autores:
Beiu V., Sandip Roy
Fuentes:
scopus
1
1
