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Improved backscattering detection in photonic force microscopy near dielectric surfaces with cylindrical vector beams
ArticleAbstract: Cylindrical vector beams are used to improve back scattering detection in photonic force microscopyPalabras claves:Back - focal plane interferometry, Cylindrical vector beams, Optical tweezers, T - matrixAutores:Donato M.G., Gucciardi P.G., Maragó O.M., Maria Antonia Iatì, Patti F., Pedaci F., Saija R., Strangi G.Fuentes:scopusRoadmap for optical tweezers
ArticleAbstract: Optical tweezers are tools made of light that enable contactless pushing, trapping, and manipulationPalabras claves:Optical manipulation, Optical trapping, Optical tweezersAutores:Adiels C.B., Argun A., Arzola A.V., Banzer P., Barooji Y.F., Beck P., Berg-Sørensen K., Betz T., Bianchi G., Bobkova V., Bowen W.P., Bruce G.D., Brzobohatý O., Callegari A., Capitanio M., Castillo I.P., Cesar C.L., Chormaic S.N., Ciriza D.B., Cristiani I., De Luca A.C., Denz C., Dholakia K., Donato M.G., Eismann J.S., Elahi P., Fernandes T.F.D., Fontes A., Foti A., García L.P., Gardini L., Gordon R., Gucciardi P.G., Hanstorp D., Jones P.H., Kalantarifard F., Käll M., Kashchuk A.V., Laplane C., Li T., Lokesh M., Magazzù A., Maragó O.M., Maria Antonia Iatì, Marmolejo J.T., Marqués M.I., McGloin D., Minzioni P., Moreira W.L., Muenker T.M., Ndukaife J.C., Neves A.A.R., Oddershede L.B., Paterson L., Pavan Kumar G.V., Pedaci F., Pesce G., Pouladian P., Preece D., Quidant R., Reece P.J., Ritort F., Ritsch-Marte M., Roberts R.P., Roichman Y., Roy B., Rubinsztein-Dunlop H., Saidi A., Saija R., Simpson S.H., Stilgoe A.B., Swartzlander G.A., Thalhammer-Thurner G., Tkachenko G., Truong V.G., Vaippully R., Volpe G., Volz T., Vos B.E., Wang F., Wittkowski R., Zemánek P.Fuentes:scopus