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Palabras Claves: "Atomic force microscopy (AFM)"

Subtipo de publicación

Article(1)

Publisher

Revista Mexicana de Fisica(1)

Área temáticas

Física aplicada(1)
Instrumentos de precisión y otros dispositivos(1)
Tecnología de otros productos orgánicos(1)

Área de conocimiento

Ciencia de materiales(1)

Objetivos de Desarrollo Sostenible

ODS 17: Alianzas para lograr los objetivos(1)
ODS 4: Educación de calidad(1)
ODS 9: Industria, innovación e infraestructura(1)

Año de Publicación

2015(1)

Origen

scopus(1)

Palabras Claves

Buzzer-scanner(1)
Nano metrology(1)
Optical DVD pick-up head(1)
  • Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador

    avatar
    Article
    Abstract: An astigmatic detection system (ADS) based on a compact disk/digital-versatile-disk (CD/DVD) astigma
    Palabras claves:
    Atomic force microscopy (AFM), Buzzer-scanner, Nano metrology, Optical DVD pick-up head
    Autores:
    Hwu E.T., Loza Matovelle David Cesar, Reza Dabirian, Wang W.M.
    Fuentes:
    scopus
    1
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