Jesus Vila
ESPE
13
Coauthors
3
Documentos
1
H-index Scopus
Volumen de publicaciones por año
Cargando gráfico
| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 1999 | 1 |
| 2016 | 1 |
| 2019 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
Cargando gráfico
| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Fibra óptica | 2 |
| Ciencia de materiales | 2 |
| Sistema no lineal | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
Cargando gráfico
| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Luz y radiaciones afines | 3 |
| Electricidad y electrónica | 2 |
| Física aplicada | 2 |
| Metalurgia y productos metálicos primarios | 1 |
| Ingeniería y operaciones afines | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 3 |
| Google Scholar | 0 |
| RRAAE | 0 |
Cargando gráfico
Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Nikolai D. Espinosa | 3 |
| Christian N. Vega | 2 |
| Paola León | 2 |
| Darwin L. Aguilar | 1 |
| Luis Cadena | 1 |
| Danny Sotomayor | 1 |
| Osovitsky A. | 1 |
| J. Álvarez | 1 |
| Cuesta M. | 1 |
Cargando gráfico
Top Keywords
Cargando gráfico
Publicaciones del autor
New method for analysis of planar optical waveguide with arbitrary distribution of dielectric constant profile
ArticleAbstract: A new method is proposed for the analysis of singlemodes and multimodes planar gradient waveguides,Palabras claves:Autores:Cuesta M., Jesus Vila, Nikolai D. EspinosaFuentes:scopusDetermination of rough microstructures on the surface of metals using the light scattering method in waveguides
Conference ObjectAbstract: In this paper, we present the main results for the theoretical, numerical and experimental analysisPalabras claves:Autores:Christian N. Vega, J. Álvarez, Jesus Vila, Nikolai D. Espinosa, Paola LeónFuentes:scopusDetermination of mean square deviation of surface roughness in a planar gradient optical waveguide
Conference ObjectAbstract: Determining the mean square deviation σ of surface roughness and the imaginary part of permittivityPalabras claves:Mean square deviation, surface roughnessAutores:Christian N. Vega, Danny Sotomayor, Darwin L. Aguilar, Jesus Vila, Luis Cadena, Nikolai D. Espinosa, Osovitsky A., Paola LeónFuentes:scopus