Documentos de Mateo Bonilla | REDI

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Área de conocimiento: "Ingeniería electrónica"

Subtipo de publicación

Conference Object(1)

Publisher

2020 IEEE ANDESCON, ANDESCON 2020(1)

Área temáticas

Ciencias de la computación(1)

Área de conocimiento

Simulación por computadora(1)

Año de Publicación

Origen

Palabras Claves

Feed Forward rejection(1)

Effects of the technology scaling down to 28nm on Ultra-Low Voltage and Power OTA performance using TCAD simulations

Conference Object

Abstract: In this paper, the effect on the performances of the technology scaling down to 28nm (bulk and plana

Palabras claves:

28nm, 90nm, Feed Forward rejection, OTA, PDK, Pseudo Differential Pair, TCAD simulation, Ultra-low power, Ultra-low voltage

André Borja, Juan Orozco, Luis Miguel Prócel Moya, Mateo Bonilla, Mateo Valencia, Ramiro Taco, Trojman L.