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Palabras Claves: "GET"
Subtipo de publicación
Article
(1)
Publisher
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(1)
Área temáticas
Física aplicada
(1)
Área de conocimiento
Ciencia de materiales
(1)
Ingeniería electrónica
(1)
Semiconductor
(1)
Año de Publicación
2020
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
AlGaN/GaN SBD
(1)
INTRINSIC
(1)
extrinsic
(1)
lifetime
(1)
on-state
(1)
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Reliability Assessment of AlGaN/GaN Schottky Barrier Diodes under ON-State Stress
Article
Abstract:
This article aims to study the degradation of Schottky Barrier Diodes (SBDs) with a Gated Edge Termi
Palabras claves:
AlGaN/GaN SBD, extrinsic, GET, INTRINSIC, lifetime, on-state, reliability
Autores:
Crupi F., De Jaeger B., Decoutere S., Eliana Acurio, Tatiana Moposita, Trojman L.
Fuentes:
scopus
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