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Año de Publicación: "2016"
Subtipo de publicación
Article
(1)
Publisher
IEEE Transactions on Electron Devices
(1)
Área temáticas
Física aplicada
(1)
Área de conocimiento
Ingeniería electrónica
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
III-V
(1)
full-Adder
(1)
tunnel field effect transistor (TFET)
(1)
very large scale integration (VLSI).
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Assessment of InAs/AlGaSb Tunnel-FET Virtual Technology Platform for Low-Power Digital Circuits
Article
Abstract:
In this work, a complementary InAs/Al0.05Ga0.95Sb tunnel field-effect-Transistor (TFET) virtual tech
Palabras claves:
full-Adder, III-V, tunnel field effect transistor (TFET), very large scale integration (VLSI).
Autores:
Crupi F., Esseni D., Marco Lanuzza, Palestri P., Selmi L., Strangio S.
Fuentes:
scopus
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