
Velazco R.
155
Coauthors
23
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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Año de publicación | Num. Publicaciones |
---|---|
2014 | 4 |
2015 | 2 |
2016 | 6 |
2017 | 3 |
2018 | 5 |
2019 | 2 |
2021 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
---|---|
Ciencias de la computación | 14 |
Arquitectura de computadoras | 12 |
Simulación por computadora | 6 |
Ingeniería electrónica | 5 |
Física de partículas | 3 |
Ciencia de materiales | 1 |
Software | 1 |
Inferencia estadística | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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Área temática | Num. Publicaciones |
---|---|
Física aplicada | 17 |
Ciencias de la computación | 14 |
Programación informática, programas, datos, seguridad | 3 |
Ciencias sociales | 1 |
Ingeniería y operaciones afines | 1 |
Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 1 |
Metodista e iglesias afines | 1 |
Electricidad y electrónica | 1 |
Comunicaciones | 1 |
Principios generales de matemáticas | 1 |
Principales fuentes de datos
Origen | Num. Publicaciones |
---|---|
Scopus | 23 |
Google Scholar | 9 |
RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
Coautor | Num. Publicaciones |
---|---|
Pablo F. Ramos | 16 |
Baylac M. | 13 |
Vanessa Vargas | 13 |
Francesca Villa | 12 |
Clemente J.A. | 10 |
PABLO FRANCISCO RAMOS VARGAS | 9 |
Rey S. | 9 |
Hubert G. | 8 |
Zergainoh N.E. | 8 |
Franco F.J. | 8 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Error rate pbkp_rediction of applications implemented in multi-core and many-core processors
Book PartAbstract:Palabras claves:Autores:Pablo F. Ramos, Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.Fuentes:scopusImproving reliability of multi-/many-core processors by using NMR-MPar approach
Book PartAbstract:Palabras claves:Autores:Mehaut J.F., Pablo F. Ramos, Vanessa Vargas, Velazco R.Fuentes:scopusSEU fault-injection at system level: Method, tools and preliminary results
Conference ObjectAbstract: An approach to study the effects of single event upsets (SEU) by fault injection performed at systemPalabras claves:CPU, Fault-Injection, SEU, Soft error, System-LevelAutores:Ayoubi R., Mansour W., Pablo F. Ramos, Velazco R.Fuentes:scopusEvaluation by neutron radiation of the nmr-mpar fault-tolerance approach applied to applications running on a 28-nm many-core processor
ArticleAbstract: Currently, there is a special interest in validating the use of Commercial-Off-The-Shelf (COTS) multPalabras claves:Many-core processor, partitioning, Radiation ground testing, redundancy, Single event effect, Single event upsetAutores:Pablo F. Ramos, PABLO FRANCISCO RAMOS VARGAS, VANESSA CAROLINA VARGAS VALLEJO, Vanessa Vargas, Velazco R.Fuentes:googlescopusSEE Error-Rate Evaluation of an Application Implemented in COTS Multicore/Many-Core Processors
ArticleAbstract: This paper evaluates the error rate of a memory-bound application implemented in different commerciaPalabras claves:Accelerated testing, Error rate, fault injection, many core, Multicore, reliability, single-event effect (SEE), single-event upset (SEU), Soft errorAutores:Baylac M., Pablo F. Ramos, Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.Fuentes:scopus