Cho S.
6
Coauthors
3
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2003 | 1 |
| 2005 | 2 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ciencia de materiales | 5 |
| Ingeniería mecánica | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ingeniería y operaciones afines | 3 |
| Física aplicada | 2 |
| Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 1 |
| Fabricación | 1 |
| Otras ramas de la ingeniería | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 3 |
| Google Scholar | 0 |
| RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Chasiotis I. | 3 |
| Jaime F. Cardenas-Garcia | 3 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Determination of elastic properties of MEMS materials using inverse solutions
Conference ObjectAbstract: The inverse solution of the problem of a hole in a plate was employed together with nanoscale deformPalabras claves:Autores:Chasiotis I., Cho S., Jaime F. Cardenas-GarciaFuentes:scopusMeasurement of nanodisplacements and elastic properties of MEMS via the microscopic hole method
ArticleAbstract: The objective of this paper is to demonstrate the application of the microscopic hole method as an aPalabras claves:Inverse Problem, material properties, MEMs, Microscopic hole method, Nanometric displacements, Polycrystalline silicon, thin filmsAutores:Chasiotis I., Cho S., Jaime F. Cardenas-GarciaFuentes:scopusThin film material parameters derived from full field nanometric displacement measurements in non-uniform MEMS geometries
Conference ObjectAbstract: MEMS-scale polycrystalline silicon 2 μm thin film specimens fabricated via the Multi User MEMS ProcePalabras claves:Autores:Chasiotis I., Cho S., Jaime F. Cardenas-GarciaFuentes:scopus