D'Ignoti A.
13
Coauthors
2
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2013 | 1 |
| 2017 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ciencia de materiales | 3 |
| Ingeniería electrónica | 2 |
Publicaciones por áreas temáticas
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| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Física aplicada | 2 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 2 |
| Google Scholar | 2 |
| RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Pace C. | 2 |
| Jorge Hernandez-Ambato | 2 |
| Consentino G. | 2 |
| Galiano S. | 2 |
| Fragomeni L. | 1 |
| Grimaldi A. | 1 |
| De Pasquale D. | 1 |
| Mazzeo M. | 1 |
| Giordano C. | 1 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
A New Effective Methodology for Semiconductor Power Devices HTRB Testing
ArticleAbstract: An advanced high-temperature reverse bias (HTRB) testing procedure for performing reliability testsPalabras claves:High-temperature reverse bias (HTRB), instrumentation, Power devices, reliability, thermal runawayAutores:Consentino G., D'Ignoti A., Fragomeni L., Galiano S., Grimaldi A., Jorge Hernandez-Ambato, Pace C.Fuentes:googlescopusInnovative instrumentation for HTRB tests on semiconductor power devices
Conference ObjectAbstract: An automated system designed to perform reliability tests on power transistors is reported. An innovPalabras claves:Cycles stress, HTRB, Mini-heater, Power devices, reliability, Thermal controlAutores:Consentino G., D'Ignoti A., De Pasquale D., Galiano S., Giordano C., Jorge Hernandez-Ambato, Mazzeo M., Pace C.Fuentes:googlescopus