Documentos de Choyke W.J. | REDI

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Publisher: "Materials Research Society Symposium - Proceedings"

Subtipo de publicación

Conference Object(1)

Área de conocimiento

Ciencia de materiales(1)

Año de Publicación

Origen

Four current examples of characterization of silicon carbide

Conference Object

Abstract: A description is given of the profiling of CVD grown 3C SiC on undulant (001) Si using low temperatu

Palabras claves:

Bai S., Cardona M., Choyke W.J., Devaty R.P., Dorner B., Hobgood D., Jorge Serrano, Ke Y., Kimoto T., Nagasawa H., Porter L.M., Shigiltchoff O., Shishkin Y., Stojetz B., Strauch D.