Palmerin J.M.
18
Coauthors
2
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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Año de publicación | Num. Publicaciones |
---|---|
2018 | 1 |
2020 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
---|---|
Ciencia de materiales | 4 |
Película delgada | 1 |
Material compuesto | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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Área temática | Num. Publicaciones |
---|---|
Física aplicada | 1 |
Electricidad y electrónica | 1 |
Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 1 |
Ingeniería y operaciones afines | 1 |
Principales fuentes de datos
Origen | Num. Publicaciones |
---|---|
Scopus | 2 |
Google Scholar | 0 |
RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
Coautor | Num. Publicaciones |
---|---|
Cruz-Valeriano E. | 2 |
Martin Yañez-Limon | 2 |
Gutiérrez-Peralta A.M. | 2 |
Escamilla-Díaz T. | 1 |
Davila S.M. | 1 |
Enríquez-Flores C.I. | 1 |
Guzmán-Caballero D.E. | 1 |
Murillo-Bracamontes E.A. | 1 |
Ramírez-Bon R. | 1 |
Torres-Ochoa J.A. | 1 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Structural and mechanical properties study of CNx/MoS<inf>2</inf>multilayer coatings obtained by sputtering
ArticleAbstract: This work documents the study of samples of CNx/MoS2 multilayer coatings, deposited by magnetron spuPalabras claves:magnetron sputtering,%Nconcentration, multilayer coating (CNx/MoS ) 2Autores:Avila-Herrera C., Cruz-Valeriano E., Flores C.I.E., Gutiérrez-Peralta A.M., Martin Yañez-Limon, Morales-Hernández J., Palmerin J.M., Zambrano G.Fuentes:scopusDielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach
ArticleAbstract: A technique was developed to measure dielectric constant at microscale based on the system theory apPalabras claves:Autores:Arciniega J.J.G., Cruz-Valeriano E., Davila S.M., Enríquez-Flores C.I., Escamilla-Díaz T., Gutiérrez-Peralta A.M., Guzmán-Caballero D.E., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Palmerin J.M., Ramírez-Bon R., Torres-Ochoa J.A.Fuentes:scopus