Consentino G.
41
Coauthors
6
Documentos
Volumen de publicaciones por año
Cargando gráfico
| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2013 | 2 |
| 2014 | 1 |
| 2017 | 1 |
| 2019 | 2 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
Cargando gráfico
| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ingeniería electrónica | 5 |
| Ciencia de materiales | 5 |
| Semiconductor | 3 |
| Física de partículas | 2 |
| Física | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
Cargando gráfico
| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Física aplicada | 5 |
| Ingeniería y operaciones afines | 2 |
| Otras ramas de la ingeniería | 1 |
| Electricidad y electrónica | 1 |
| Ciencias Naturales y Matemáticas | 1 |
| Física | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 6 |
| Google Scholar | 4 |
| RRAAE | 0 |
Cargando gráfico
Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Pace C. | 4 |
| Jorge Hernandez-Ambato | 4 |
| Mazzeo M. | 3 |
| Giordano C. | 3 |
| D'Ignoti A. | 2 |
| Galiano S. | 2 |
| Reggiani S. | 2 |
| Sánchez Luis | 2 |
| Crupi F. | 2 |
| Laudani M. | 2 |
Cargando gráfico
Top Keywords
Cargando gráfico
Publicaciones del autor
Threshold voltage instability in SiC power MOSFETs
Conference ObjectAbstract: Charge trapping and de-trapping phenomena in SiC power MOSFETs were investigated by performing two dPalabras claves:Autores:Consentino G., Crupi F., Esteban Guevara, Meneghesso G., Reggiani S., Sánchez LuisFuentes:scopusA New Effective Methodology for Semiconductor Power Devices HTRB Testing
ArticleAbstract: An advanced high-temperature reverse bias (HTRB) testing procedure for performing reliability testsPalabras claves:High-temperature reverse bias (HTRB), instrumentation, Power devices, reliability, thermal runawayAutores:Consentino G., D'Ignoti A., Fragomeni L., Galiano S., Grimaldi A., Jorge Hernandez-Ambato, Pace C.Fuentes:googlescopusEffects on power transistors of Terrestrial Cosmic Rays: Study, experimental results and analysis
Conference ObjectAbstract: High voltage power transistors used in inverters for photovoltaic panels and avionic applications arPalabras claves:Autores:Consentino G., Giordano C., Jorge Hernandez-Ambato, Laudani M., Mazzeo M., Pace C., Privitera G.Fuentes:googlescopusInnovative instrumentation for HTRB tests on semiconductor power devices
Conference ObjectAbstract: An automated system designed to perform reliability tests on power transistors is reported. An innovPalabras claves:Cycles stress, HTRB, Mini-heater, Power devices, reliability, Thermal controlAutores:Consentino G., D'Ignoti A., De Pasquale D., Galiano S., Giordano C., Jorge Hernandez-Ambato, Mazzeo M., Pace C.Fuentes:googlescopusCharacterization and Modeling of BTI in SiC MOSFETs
Conference ObjectAbstract: SiC power MOSFETs have been investigated by performing two different kinds of measurements, the hystPalabras claves:Autores:Consentino G., Cornigli D., Crupi F., Fiegna C., Reggiani S., Sánchez Luis, Sangiorgi E., Tallarico A.N., Valdivieso C.Fuentes:scopus