Documentos de Torres-Ochoa J.A. | REDI

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Subtipo de publicación

Publisher

Applied Physics A: Materials Science and Processing(1)

Área temáticas

Electricidad y electrónica(1)

Física aplicada(1)

Instrumentos de precisión y otros dispositivos(1)

Área de conocimiento

Ciencia de materiales(1)

Película delgada(1)

Objetivos de Desarrollo Sostenible

ODS 17: Alianzas para lograr los objetivos(1)

ODS 4: Educación de calidad(1)

ODS 9: Industria, innovación e infraestructura(1)

Año de Publicación

Origen

Dielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach

Abstract: A technique was developed to measure dielectric constant at microscale based on the system theory ap

Palabras claves:

Arciniega J.J.G., Cruz-Valeriano E., Davila S.M., Enríquez-Flores C.I., Escamilla-Díaz T., Gutiérrez-Peralta A.M., Guzmán-Caballero D.E., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Palmerin J.M., Ramírez-Bon R., Torres-Ochoa J.A.