Palabras claves: Light trapping, Multiple scattering, Raman enhancement, random fractal, silicon nanowires
Autores: Artoni P., D'Andrea C., Del Sorbo S., Fazio B., Galli M., Gucciardi P.G., Irrera A., Lo Faro M.J., Maria Antonia Iatì, Musumeci P., Pirotta S., Priolo F., Saija R., Vasi C.S.