open navigation menu
Autores
Documentos
Organizaciones
Eventos
Proyectos
Patentes
Servicios
Inicio
Acerca de
Explorar
Análisis
Reportes
Regresar
Inicio
/
Explore
/
Authors
Mostrando
1
resultados de:
1
Filtros
Filtros aplicados
Área temáticas: "Física aplicada"
Subtipo de publicación
Conference Object
(1)
Publisher
ESEM 2010 - Proceedings of the 2010 ACM-IEEE International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement
(1)
Área temáticas
Ciencias de la computación
(1)
Programación informática, programas, datos, seguridad
(1)
Área de conocimiento
Ingeniería de software
(1)
Software
(1)
Año de Publicación
2010
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
Case study
(1)
Functional Size
(1)
MDD
(1)
defect detection
(1)
Evaluating the usefulness of a functional size measurement procedure to detect defects in MDD models
Conference Object
Abstract:
Models are key artifacts in Model-Driven Development (MDD) methods. To evaluate the quality of model
Palabras claves:
Case study, defect detection, Functional Size, MDD
Autores:
Alain Abran, Giachetti G., Maŕin B., Pastor Ó., Vos T.E.J.
Fuentes:
scopus
1
1
