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Accelerated life testing and temperature dependence of device characteristics in GaAs CHFET devices

Abstract:

Accelerated life testing of GaAs complementary heterojunction field effect transistors (CHFET) was carried out. Temperature dependence of single and synchronous rectifier CHFET device characteristics were also obtained.

Año de publicación:

2002

Keywords:

    Fuente:

    googlegoogle

    Tipo de documento:

    Other

    Estado:

    Acceso abierto

    Áreas de conocimiento:

    • Ingeniería electrónica
    • Ciencia de materiales
    • Semiconductor

    Áreas temáticas:

    • Física aplicada

    Contribuidores:

    Verónica Alexandra Melo LópezVerónica Alexandra Melo López