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Grenoble large scale facilities for advanced characterisation of microelectronics devices

Abstract:

The French IRT-Nanoelec consortium in collaboration with GENEPI2 accelerator is offering world unique and complementary techniques for Hirel components characterisation. Part of this capability is the high and low (thermal) energy neutron testing of devices.

Año de publicación:

2015

Keywords:

  • Thermal neutrons
  • Failure analysis
  • Tomography
  • Devices characterisation
  • reliability
  • Neutron irradiation

Fuente:

scopusscopus

Tipo de documento:

Conference Object

Estado:

Acceso restringido

Áreas de conocimiento:

  • Ciencia de materiales
  • Ciencia de materiales

Áreas temáticas de Dewey:

  • Física aplicada
Procesado con IAProcesado con IA

Objetivos de Desarrollo Sostenible:

  • ODS 9: Industria, innovación e infraestructura
  • ODS 17: Alianzas para lograr los objetivos
  • ODS 8: Trabajo decente y crecimiento económico
Procesado con IAProcesado con IA

Contribuidores:

Segura-Ruiz J.Segura-Ruiz J.
Royer J.C.Royer J.C.
Curfs C.Curfs C.
Francesca VillaFrancesca Villa
Baylac M.Baylac M.
Beaucour J.Beaucour J.
Capria E.Capria E.
Mitchell E.Mitchell E.
Rey S.Rey S.
Giroud B.Giroud B.