Regresar

Reliability issues in GaAs-based devices for space applications

Abstract:

This work describes some of the effects of high humidity and temperature tests undertaken with the 2.5 THz GaAs monolithic membrane-diode mixers (fabricated at the Jet Propulsion Laboratory). Some preliminary results and device characterization performed on GaAs CHFETS under consideration for an upcoming mission's power system will also be presented.

Año de publicación:

2001

Keywords:

    Fuente:

    googlegoogle

    Tipo de documento:

    Other

    Estado:

    Acceso abierto

    Áreas de conocimiento:

    • Ingeniería electrónica
    • Semiconductor
    • Ciencia de materiales

    Áreas temáticas:

    • Física aplicada
    • Otras ramas de la ingeniería

    Contribuidores:

    Verónica Alexandra Melo LópezVerónica Alexandra Melo López