Construcción de un banco de pruebas de integrados digitales para evaluar el funcionamiento de cada integrado digital de la familia CMOS de la serie del 40xx

Abstract:

El presente trabajo de Investigación se refiere a la construcción de un banco de pruebas para evaluar el funcionamiento de integrados digitales de la familia CMOS de la serie del 40xx. referido a compuertas lógicas, existentes en nuestro medio. El mencionado trabajo tiene el fin de ser implementado en el Laboratorio de Electrónica Digital de la Escuela de Ingeniería Eléctrica de la Universidad Politécnica Salesiana.

Año de publicación:

2000

Keywords:

• Instrumentos de medición
• LOCALIZACIÓN DE FALLAS ELÉCTRICAS
• INGENIERIA ELÉCTRICA
• ANÁLISIS DE CIRCUITOS ELÉCTRICOS
• CIRCUITOS INTEGRADOS DIGITALES

Fuente:

rraae