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Correlative atomic force microscopy and localization-based super-resolution microscopy: Revealing labelling and image reconstruction artefacts

Abstract:

Hybrid microscopy: A correlative microscopy tool that combines in situ super-resolution fluorescence microscopy based on single-molecule localization and atomic force microscopy is presented. Direct comparison with high- resolution topography allows the authors to improve fluorescence labeling and image analysis in super-resolution imaging. © 2014 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.

Año de publicación:

2014

Keywords:

  • single-molecule microscopy
  • Correlative microscopy
  • DNA imaging
  • artefacts
  • atomic force microscopy

Fuente:

scopusscopus

Tipo de documento:

Article

Estado:

Acceso restringido

Áreas de conocimiento:

    Áreas temáticas de Dewey:

    • Física aplicada
    • Campos específicos y tipos de fotografía
    • Instrumentos de precisión y otros dispositivos
    Procesado con IAProcesado con IA

    Objetivos de Desarrollo Sostenible:

    • ODS 9: Industria, innovación e infraestructura
    • ODS 3: Salud y bienestar
    • ODS 4: Educación de calidad
    Procesado con IAProcesado con IA

    Contribuidores:

    Santiago CasadoSantiago Casado
    Monserrate A.Monserrate A.
    Flors C.Flors C.