Agapito J.A.
37
Coauthors
4
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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Año de publicación | Num. Publicaciones |
---|---|
2016 | 3 |
2017 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
---|---|
Ciencias de la computación | 3 |
Física de partículas | 1 |
Simulación por computadora | 1 |
Arquitectura de computadoras | 1 |
Inferencia estadística | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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Área temática | Num. Publicaciones |
---|---|
Física aplicada | 4 |
Ciencias de la computación | 2 |
Programación informática, programas, datos, seguridad | 2 |
Electricidad y electrónica | 1 |
Comunicaciones | 1 |
Principios generales de matemáticas | 1 |
Principales fuentes de datos
Origen | Num. Publicaciones |
---|---|
Scopus | 4 |
Google Scholar | 1 |
RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
Coautor | Num. Publicaciones |
---|---|
Mecha H. | 4 |
Francesca Villa | 4 |
Clemente J.A. | 4 |
Franco F.J. | 4 |
Baylac M. | 4 |
Velazco R. | 4 |
Hubert G. | 3 |
Puchner H. | 3 |
Rey S. | 3 |
Vanessa Vargas | 1 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Some properties of only-SBUs scenarios in SRAMs applied to the detection of MCUs
Conference ObjectAbstract: Statistical properties of experiments in SRAMs with only SBUs are mathematically evaluated. StrategiPalabras claves:Multiple cell upsets, single bit upsets, single events, soft errors, SRAMsAutores:Agapito J.A., Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Hubert G., Mecha H., Puchner H., Rey S., Velazco R.Fuentes:scopusStatistical Anomalies of Bitflips in SRAMs to Discriminate SBUs from MCUs
ArticleAbstract: Recently, the occurrence of multiple events in static tests has been investigated by checking the stPalabras claves:Multiple cell upsets, neutron tests, Single Event Upsets, SRAMsAutores:Agapito J.A., Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Hubert G., Mecha H., Puchner H., Rey S., Velazco R.Fuentes:scopusStatistical Deviations from the Theoretical Only-SBU Model to Estimate MCU Rates in SRAMs
ArticleAbstract: This paper addresses a well-known problem that occurs when memories are exposed to radiation: the dePalabras claves:Multiple cell upsets (MCUs), single bit upsets (SBUs), single events, soft errors, static random access memories (SRAMs)Autores:Agapito J.A., Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Hubert G., Mecha H., Puchner H., Rey S., Velazco R.Fuentes:scopusSingle events in a COTS soft-error free SRAM at low bias voltage induced by 15-MeV neutrons
ArticleAbstract: This paper presents an experimental study of the sensitivity to 15-MeV neutrons of Advanced Low PowePalabras claves:Cots, LPSRAM, neutron tests, radiation hardness, reliability, Soft error, SRAMAutores:Agapito J.A., Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Mecha H., Pablo F. Ramos, PABLO FRANCISCO RAMOS VARGAS, VANESSA CAROLINA VARGAS VALLEJO, Vanessa Vargas, Velazco R.Fuentes:googlescopus