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Some properties of only-SBUs scenarios in SRAMs applied to the detection of MCUs

Abstract:

Statistical properties of experiments in SRAMs with only SBUs are mathematically evaluated. Strategies using deviations of actual data from theory are proposed to extract MCUs from the bulk of errors regardless the SRAM internal structure.

Año de publicación:

2016

Keywords:

  • single events
  • single bit upsets
  • soft errors
  • Multiple cell upsets
  • SRAMs

Fuente:

scopusscopus

Tipo de documento:

Conference Object

Estado:

Acceso restringido

Áreas de conocimiento:

  • Ciencias de la computación
  • Simulación por computadora

Áreas temáticas:

  • Física aplicada
  • Ciencias de la computación
  • Comunicaciones

Contribuidores:

Mecha H.Mecha H.
Agapito J.A.Agapito J.A.
Hubert G.Hubert G.
Francesca VillaFrancesca Villa
Clemente J.A.Clemente J.A.
Franco F.J.Franco F.J.
Baylac M.Baylac M.
Puchner H.Puchner H.
Velazco R.Velazco R.
Rey S.Rey S.