Clemente J.A.
83
Coauthors
10
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2014 | 1 |
| 2015 | 1 |
| 2016 | 5 |
| 2017 | 2 |
| 2018 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ingeniería electrónica | 5 |
| Ciencias de la computación | 3 |
| Física de partículas | 2 |
| Ciencia de materiales | 1 |
| Simulación por computadora | 1 |
| Arquitectura de computadoras | 1 |
| Inferencia estadística | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Física aplicada | 10 |
| Ciencias de la computación | 3 |
| Programación informática, programas, datos, seguridad | 2 |
| Ciencias sociales | 1 |
| Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 1 |
| Electricidad y electrónica | 1 |
| Comunicaciones | 1 |
| Principios generales de matemáticas | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 10 |
| Google Scholar | 1 |
| RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Francesca Villa | 10 |
| Baylac M. | 10 |
| Velazco R. | 10 |
| Franco F.J. | 8 |
| Rey S. | 7 |
| Mecha H. | 7 |
| Hubert G. | 7 |
| Puchner H. | 5 |
| Agapito J.A. | 4 |
| Vanessa Vargas | 3 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Evaluation of the sensitivity of a COTS 90-nm SRAM memory at low bias voltage
Conference ObjectAbstract: This paper presents an experimental study of the sensitivity to 14-MeV neutrons to low bias voltagePalabras claves:Cots, low-bias voltage, neutron tests, radiation hardness, reliability, Soft error, SRAMAutores:Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Hubert G., Mecha H., Velazco R.Fuentes:scopusSensitivity Characterization of a COTS 90-nm SRAM at Ultralow Bias Voltage
ArticleAbstract: This paper presents the characterization of the sensitivity to 14-MeV neutrons of a commercial off-tPalabras claves:Cots, low-bias voltage, neutron tests, radiation hardness, reliability, Soft error, static random access memory (SRAM)Autores:Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Hubert G., Mecha H., Puchner H., Velazco R.Fuentes:scopusSensitivity to neutron radiation of a 45 nm SOI multi-core processor
Conference ObjectAbstract: The purpose of this paper is to evaluate the SEU sensitivity of a multi-core SoC working in two diffPalabras claves:Asymmetric multi-processing, Multi-core, SEU, Soft error, SOI, Symmetric Multi-ProcessingAutores:Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Pablo F. Ramos, Rey S., Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.Fuentes:scopusEvaluating the SEE Sensitivity of a 45 nm SOI Multi-Core Processor Due to 14 MeV Neutrons
ArticleAbstract: The aim of this work is to evaluate the SEE sensitivity of a multi-core processor having implementedPalabras claves:Accelerated testing, AMP, Multi-core, SEE, SEFI, SEU, SMP, Soft error, SOIAutores:Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Mehaut J.F., Pablo F. Ramos, Rey S., Vanessa Vargas, Velazco R., Zergainoh N.E.Fuentes:scopusEvidence of the robustness of a cots soft-error free SRAM to Neutron Radiation
ArticleAbstract: Radiation tests with 15-MeV neutrons were performed in a COTS SRAM including a new memory cell desigPalabras claves:Cots, LPSRAM, MUSCA SEP3, neutron tests, radiation hardness, reliability, Soft error, SRAMAutores:Baylac M., Clemente J.A., Francesca Villa, Franco F.J., Hubert G., Mansour W., Palomar C., Rey S., Rosetto O., Velazco R.Fuentes:scopus