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Año de Publicación: "2018"
Subtipo de publicación
Conference Object
(1)
Publisher
2018 IEEE 3rd Ecuador Technical Chapters Meeting, ETCM 2018
(1)
Área temáticas
Física aplicada
(1)
Área de conocimiento
Ingeniería electrónica
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
PYTHON
(1)
Parameter Analyzer
(1)
RFCV
(1)
Source Measure Unit
(1)
Vector Network Analyzer
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Capacitance Extraction of 34-nm Metallurgical Channel Length MOSFET for Parasitic Assessment Using the RFCV Technique
Conference Object
Abstract:
This paper presents the description and the results obtained with a new RFCV system written on pytho
Palabras claves:
Parameter Analyzer, PYTHON, RFCV, Source Measure Unit, Vector Network Analyzer
Autores:
DIego R. Benalcázar, Esteban Garzón, Trojman L.
Fuentes:
scopus
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