redi logo
  • Inicio
  • Acerca de
Regresar
  • Inicio
  • /
  • Explore
  • /
  • Authors

Mostrando 2 resultados de: 2

Filtros aplicados

Publisher: "Nonlinear Analysis, Theory, Methods and Applications"

Subtipo de publicación

Article(2)

Área temáticas

Análisis(2)
Electricidad y electrónica(1)
Física(1)
Principios generales de matemáticas(1)

Área de conocimiento

Optimización matemática(2)
Sistema no lineal(1)
Óptica no lineal(1)

Objetivos de Desarrollo Sostenible

ODS 17: Alianzas para lograr los objetivos(1)
ODS 4: Educación de calidad(1)
ODS 9: Industria, innovación e infraestructura(1)

Año de Publicación

2007(1)
2013(1)

Origen

scopus(2)

Palabras Claves

Free energy(1)
Schrödinger operator(1)
Trace-class operator(1)
compactness(1)
  • Multiplicity and concentration for the nonlinear Schrödinger equation with critical frequency

    avatar
    Article
    Abstract: We consider the nonlinear Schrödinger equation (E)ε2 Δ v - V (x) v + | v |p - 1 v = 0 in RN, and the
    Palabras claves:
    Autores:
    Felmer P., Juan Mayorga-Zambrano
    Fuentes:
    scopus
  • Sobolev-like cones of trace-class operators on unbounded domains: Interpolation inequalities and compactness properties

    avatar
    Article
    Abstract: In this paper we extend the compactness properties for trace-class operators obtained by Dolbeault,
    Palabras claves:
    compactness, Free energy, Schrödinger operator, Trace-class operator
    Autores:
    Juan Mayorga-Zambrano, Zuly Salinas
    Fuentes:
    scopus
    1
  • 1

Inicio

    Acerca de

      Explorar

        AutoresDocumentosOrganizacionesEventosProyectosPatentesServicios

      Análisis

        Áreas de conocimiento
        Redes de investigaciónTendenciasTodas las áreas de conocimiento
        Áreas temáticas de Dewey
        Redes de investigaciónTendenciasTodas las áreas temáticas
        Objetivos de Desarrollo Sostenible
        ODS por documentos

      Reportes

        GeneralAutoresDocumentosOrganizacionesEventosProyectosPatentesServicios

      © 2025 CEDIA copyright
      CEDIA