Documentos de Siqueiros J.M. | REDI

Regresar

Mostrando 2 resultados de: 2

Filtros aplicados

Área de conocimiento: "Ciencia de materiales"

Subtipo de publicación

Publisher

Applied Physics A: Materials Science and Processing(1)

Measurement: Journal of the International Measurement Confederation(1)

Área temáticas

Ingeniería y operaciones afines(2)

Cristalografía(1)

Electricidad y electrónica(1)

Área de conocimiento

Año de Publicación

Origen

Palabras Claves

Electromechanical response(1)

Ferroelectrics(1)

Hysteresis loops(1)

atomic force microscopy(1)

An alternative scheme to measure single-point hysteresis loops using piezoresponse force microscopy

Abstract: We present a simple and low cost procedure to obtain the electromechanical response, in a single-poi

Palabras claves:

atomic force microscopy, Electromechanical response, Ferroelectrics, Hysteresis loops, PFM

Cruz M.P., Flores-Ruiz F.J., Gervacio-Arciniega J.J., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Siqueiros J.M.

PFM characterization of (K<inf>0.5</inf>Na<inf>0.5</inf>) <inf>0.95</inf>La<inf>0.05</inf>(Nb<inf>0.9</inf>Ti<inf>0.05</inf>)O <inf>2.9</inf> ceramics lead free

Abstract: The results of ferroelectric properties studies of KNN doped with La and Ti and sintered at temperat

Palabras claves:

Durruthy-Rodríguez M.D., Espinoza-Beltran F.J., Fuentes J., Gervacio-Arciniega J.J., Martin Yañez-Limon, Pérez A., Portellez-Rodríguez J., Raymond-Herrera O., Siqueiros J.M.