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Palabras Claves: "Low leakage"
Subtipo de publicación
Conference Object
(1)
Publisher
Proceedings - 3rd International Conference on Emerging Trends in Engineering and Technology, ICETET 2010
(1)
Área temáticas
Ciencias de la computación
(1)
Área de conocimiento
Simulación por computadora
(1)
Año de Publicación
2010
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
Monte Carlo simulations
(1)
Random process variation
(1)
SRAM cell
(1)
Impact of random process variations on different 65nm SRAM cell topologies
Conference Object
Abstract:
In this paper, the influence of random process variations on different low leakage SRAM topologies h
Palabras claves:
Low leakage, Monte Carlo simulations, Random process variation, SRAM cell
Autores:
Corsonello P., Kansal S., Marco Lanuzza
Fuentes:
scopus
1
1
