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Año de Publicación: "1998"
Subtipo de publicación
Article
(1)
Publisher
Probe Microscopy
(1)
Área temáticas
Física aplicada
(1)
Física moderna
(1)
Instrumentos de precisión y otros dispositivos
(1)
Área de conocimiento
Ciencia de materiales
(1)
Nanopartícula
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
Broadening effect
(1)
Tapping mode
(1)
Tip Calibration
(1)
atomic force microscopy
(1)
Dimensional metrology of nanometric spherical particles using AFM: II, application of model-tapping mode
Article
Abstract:
Colloidal gold particles of 5, 10 and 15 nm diameter were deposited on silicon chips and used to det
Palabras claves:
atomic force microscopy, Broadening effect, Tapping mode, Tip Calibration
Autores:
Briceño-Valero J., Martínez L., Schilling C.H., V. J. García
Fuentes:
scopus
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