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Palabras Claves: "atomic force microscopy"
Subtipo de publicación
Article
(1)
Publisher
Measurement: Journal of the International Measurement Confederation
(1)
Área temáticas
Electricidad y electrónica
(1)
Física
(1)
Ingeniería y operaciones afines
(1)
Área de conocimiento
Ciencia de materiales
(1)
Año de Publicación
2017
(1)
Origen
scopus
(1)
Palabras Claves
Electromechanical response
(1)
Ferroelectrics
(1)
Hysteresis loops
(1)
PFM
(1)
An alternative scheme to measure single-point hysteresis loops using piezoresponse force microscopy
Article
Abstract:
We present a simple and low cost procedure to obtain the electromechanical response, in a single-poi
Palabras claves:
atomic force microscopy, Electromechanical response, Ferroelectrics, Hysteresis loops, PFM
Autores:
Cruz M.P., Flores-Ruiz F.J., Gervacio-Arciniega J.J., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Siqueiros J.M.
Fuentes:
scopus
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