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Año de Publicación: "2018"

Subtipo de publicación

Conference Object(1)

Publisher

2018 IEEE 3rd Ecuador Technical Chapters Meeting, ETCM 2018(1)

Área temáticas

Física aplicada(1)

Área de conocimiento

Ingeniería electrónica(1)

Objetivos de Desarrollo Sostenible

ODS 17: Alianzas para lograr los objetivos(1)
ODS 8: Trabajo decente y crecimiento económico(1)
ODS 9: Industria, innovación e infraestructura(1)

Origen

scopus(1)

Palabras Claves

PYTHON(1)
Parameter Analyzer(1)
RFCV(1)
Source Measure Unit(1)
Vector Network Analyzer(1)
  • Capacitance Extraction of 34-nm Metallurgical Channel Length MOSFET for Parasitic Assessment Using the RFCV Technique

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    Conference Object
    Abstract: This paper presents the description and the results obtained with a new RFCV system written on pytho
    Palabras claves:
    Parameter Analyzer, PYTHON, RFCV, Source Measure Unit, Vector Network Analyzer
    Autores:
    DIego R. Benalcázar, Esteban Garzón, Trojman L.
    Fuentes:
    scopus
    1
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