Murillo-Bracamontes E.A.
23
Coauthors
3
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2017 | 1 |
| 2018 | 1 |
| 2021 | 1 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ciencia de materiales | 4 |
| Nanopartícula | 1 |
| Película delgada | 1 |
Publicaciones por áreas temáticas
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| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Física | 2 |
| Electricidad y electrónica | 2 |
| Física aplicada | 2 |
| Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 2 |
| Ingeniería y operaciones afines | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 3 |
| Google Scholar | 0 |
| RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Martin Yañez-Limon | 3 |
| Cruz M.P. | 2 |
| Gervacio-Arciniega J.J. | 2 |
| Siqueiros J.M. | 2 |
| Cruz-Valeriano E. | 2 |
| Enríquez-Flores C.I. | 2 |
| Flores-Ruiz F.J. | 1 |
| Palomino-Ovando M.A. | 1 |
| Escamilla-Díaz T. | 1 |
| Davila S.M. | 1 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
An alternative scheme to measure single-point hysteresis loops using piezoresponse force microscopy
ArticleAbstract: We present a simple and low cost procedure to obtain the electromechanical response, in a single-poiPalabras claves:atomic force microscopy, Electromechanical response, Ferroelectrics, Hysteresis loops, PFMAutores:Cruz M.P., Flores-Ruiz F.J., Gervacio-Arciniega J.J., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Siqueiros J.M.Fuentes:scopusContact resonance frequencies and their harmonics in scanning probe microscopy
ArticleAbstract: Local characterizations of electric, magnetic, mechanical, electrochemical, and structural propertiePalabras claves:Autores:Cruz M.P., Cruz-Valeriano E., Enríquez-Flores C.I., Gervacio-Arciniega J.J., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Palomino-Ovando M.A., Siqueiros J.M.Fuentes:scopusDielectric constant measurement using atomic force microscopy of dielectric films: a system theory approach
ArticleAbstract: A technique was developed to measure dielectric constant at microscale based on the system theory apPalabras claves:Autores:Arciniega J.J.G., Cruz-Valeriano E., Davila S.M., Enríquez-Flores C.I., Escamilla-Díaz T., Gutiérrez-Peralta A.M., Guzmán-Caballero D.E., Martin Yañez-Limon, Murillo-Bracamontes E.A., Palmerin J.M., Ramírez-Bon R., Torres-Ochoa J.A.Fuentes:scopus