Crupi F.
420
Coauthors
80
Documentos
Volumen de publicaciones por año
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| Año de publicación | Num. Publicaciones |
|---|---|
| 2007 | 1 |
| 2013 | 3 |
| 2014 | 3 |
| 2015 | 7 |
| 2016 | 6 |
| 2017 | 16 |
| 2018 | 7 |
| 2019 | 11 |
| 2020 | 6 |
| 2021 | 11 |
| 2022 | 7 |
| 2023 | 2 |
Publicaciones por áreas de conocimiento
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| Área de conocimiento | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Ingeniería electrónica | 80 |
| Energía | 25 |
| Ciencia de materiales | 21 |
| Simulación por computadora | 20 |
| Fotovoltaica | 10 |
| Semiconductor | 6 |
| Celda solar | 5 |
| Campo magnético | 4 |
| Ciencias de la computación | 4 |
| Red neuronal artificial | 3 |
Publicaciones por áreas temáticas
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| Área temática | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Física aplicada | 68 |
| Ciencias de la computación | 17 |
| Ingeniería y operaciones afines | 5 |
| Instrumentos de precisión y otros dispositivos | 5 |
| Electricidad y electrónica | 4 |
| Otras ramas de la ingeniería | 3 |
| Magnetismo | 2 |
| Teología social y relaciones interreligiosas | 2 |
| Dibujo técnico, materiales peligrosos | 1 |
| Programación informática, programas, datos, seguridad | 1 |
Principales fuentes de datos
| Origen | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Scopus | 80 |
| Google Scholar | 14 |
| RRAAE | 0 |
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Coautores destacados por número de publicaciones
| Coautor | Num. Publicaciones |
|---|---|
| Marco Lanuzza | 58 |
| Rose R.D. | 41 |
| Trojman L. | 21 |
| Strangio S. | 11 |
| Esteban Garzón | 11 |
| Carpentieri M. | 11 |
| Finocchio G. | 10 |
| Paul Procel | 10 |
| Alioto M. | 9 |
| Palestri P. | 8 |
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Top Keywords
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Publicaciones del autor
Temperature study of defect generation, under channel hot carrier stress for 35-nm gate length MOSFETs using the Defect-Centric perspective
Conference ObjectAbstract: In this work, we present an analysis to separate the interface states generation from the oxide trapPalabras claves:channel hot carrier degradation, defect centrict framework, interface states, Oxide trapsAutores:Crupi F., Luis Miguel Prócel Moya, Trojman L.Fuentes:googlescopusAn energy aware variation-tolerant writing termination control for STT-based non volatile flip-flops
Conference ObjectAbstract: In this paper, we propose a variation-tolerant design methodology to embed self-write termination coPalabras claves:digital circuits, Energy efficiency, Non-volatile flip-flop, STT-MRAM, VLSI, Zero-leakage circuitsAutores:Alioto M., Crupi F., Marco Lanuzza, Rose R.D.Fuentes:scopusA physical unclonable function based on a 2-transistor subthreshold voltage divider
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Conference ObjectAbstract: In this paper, we propose a sub-1-V nanopower current reference based on dual-threshold voltage currPalabras claves:CMOS analog design, Current reference, low-power design, low-voltage design, subthreshold operationAutores:Albano D., Crupi F., Marco Lanuzza, Rose R.D.Fuentes:scopus